三維形貌儀是利用光學干涉原理研制開發(fā)的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統(tǒng)在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的亮度取決于兩束光的光程差，根據(jù)白光干涉條紋明暗度以及干涉條文出現(xiàn)的位置解析出被測樣品的相對高度。

 

　　本產(chǎn)品適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。多項式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值，交互縮放，X-Y和線段剖面，三維線路、混合和固定繪圖，用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。

 

　　三維形貌儀的使用優(yōu)點：

　　1、高分辨率：檢測每個細節(jié)并提供*的分辨搴。

　　2、*精度：提供高精度，生成精密的3D物體圖像。

　　3、真正便攜式設(shè)備：可裝入一只手提箱，攜帶到作業(yè)現(xiàn)場或者轉(zhuǎn)移于工廠之間。

　　4、價格實惠：具有競爭力，不需要連接CMM掃描臂或其他外部跟蹤裝置，且成本維護費用極低。

　　5、手持式設(shè)備：設(shè)備的外形和重量分布*長期使用，不會導致出現(xiàn)肌肉和骨骼酸痛。

　　6、自定位：不需要額外跟蹤或定位設(shè)備，創(chuàng)新的定位目標點技術(shù)可以使用戶根據(jù)其需要以任何方式、角度移動被測物體。

　　7、真正自動多分辨率：新型批量三角化處理裝置可在需要時保持更高分辨率，同時在平面上保持更大三角形網(wǎng)格，從而生成更小的STL文件格式。

　　8、雙掃描模式：用戶可使用安裝在設(shè)備頂部的按鈕在正常和高分辨率掃描模式之間切換。正常分辨率對于大型部件和動態(tài)掃描十分有用，而高分辨率于要求嚴格的復雜表面。

　　9、功能強大，使用界面友好：即使在狹小的空聞內(nèi)使用都應用自如，可掃描任何尺寸、形狀及顏色的物體。只需極短的培訓學習時間即可上手。