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在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代，對于精密測量的需求日益增長，膜厚測量作為眾多領(lǐng)域的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對測量設(shè)備的精度、可靠性和靈活性提出了更高的要求。而Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo作為一款模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，正以其特殊的...
隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展，薄膜電阻在電路板、顯示器、傳感器等領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。而對薄膜電阻進行準(zhǔn)確測試是保證電子產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵。為此，薄膜電阻測試儀應(yīng)運而生，成為提升電子產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要工具。薄膜電阻測試儀是一種通過測量薄膜電阻的阻值和溫度系數(shù)，來評估薄膜電阻性能的設(shè)備。其原理基于電流-電壓（I-V）特性曲線的測量，通過施加電壓并測量相應(yīng)的電流來計算薄膜電阻的阻值。同時，通過改變環(huán)境溫度并測量電阻的變化，可以評估薄膜電阻的溫度系數(shù)。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊，操作簡便，能夠快速...
薄膜厚度測量是材料科學(xué)和工業(yè)生產(chǎn)中的重要環(huán)節(jié)。為了滿足對精確度、便攜性和操作簡便的需求，研究人員開發(fā)了一種精簡的薄膜厚度測量儀，該儀器能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測量，為各行各業(yè)提供了一種快速準(zhǔn)確的測量解決方案。精簡薄膜厚度測量儀的原理基于光學(xué)干涉的原理。儀器主要由光源、分束器、樣品臺和檢測器組成。當(dāng)光線照射到待測薄膜表面時，一部分光線被反射，一部分光線穿過薄膜并在底部反射。通過檢測這兩束光線的干涉衍射現(xiàn)象，可以計算出薄膜的厚度。這種測量儀器具有結(jié)構(gòu)簡單、體積小巧、操作方便等優(yōu)點。它不需...
隨著科技的發(fā)展和應(yīng)用范圍的擴大，薄膜材料在多個行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用，如光學(xué)、電子、涂層等領(lǐng)域。而對薄膜材料的厚度進行準(zhǔn)確測量是保證產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵。為此，自動化高速薄膜厚度測量儀應(yīng)運而生，成為提升生產(chǎn)效率的重要工具。本文將介紹該測量儀的原理、特點以及其在工業(yè)生產(chǎn)中的應(yīng)用。自動化高速薄膜厚度測量儀是一種通過非接觸式方法，對薄膜材料進行高速、高精度測量的設(shè)備。其原理基于光學(xué)干涉或X射線吸收等技術(shù)，通過測量光或射線在薄膜表面的反射或透射情況，從而計算出薄膜的厚度。該儀器結(jié)構(gòu)緊...
納米壓痕儀是一種先進的實驗設(shè)備，可以用于測量材料的力學(xué)性能和表面硬度。它通過使用納米尖頭對樣品表面進行微小力的施加，并測量樣品在受力下的變形情況。根據(jù)該變形情況，可以計算出材料的硬度、彈性模量和塑性變形等力學(xué)性質(zhì)。納米壓痕儀的測量應(yīng)用：1.材料硬度測量：它可以用于測量各種材料的硬度，包括金屬、陶瓷、聚合物等。通過測量材料的硬度，可以評估材料的抗壓性能和耐磨性，為材料的選擇和應(yīng)用提供依據(jù)；2.薄膜性能表征：它可以用于測量薄膜的力學(xué)性能，如薄膜的硬度、彈性模量和粘附性。這對于薄膜...
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，它是以白光干涉技術(shù)為原理，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束，一束經(jīng)被測表面反射回來，另外一束光經(jīng)參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。白光干涉儀專用于非接觸式快速測量，精密零部件之重點部位的表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸，其測量精度可以達到納米級！目前，在3D測量領(lǐng)域，白光干涉儀是精度最高的測量儀器之一。白光干涉儀比...